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精密光学薄膜元件的研发与制造
产品分类
红外带通滤光片主要以单晶硅为基片，在基片表面交替镀制锗和硒化锌材料
薄膜，使用于红外特征敏感元件系统。我们可提供不同特定波段的红外带通
滤光片，膜层具有高截止率、高透过率，膜层牢固，光洁度好，吸收小等优
点，性能稳定可靠。
测温特征敏感元件
气体探测器
光学探测器
规格尺寸：圆形Φ3mm～Φ200mm ，成品尺寸：2.9*2.9*0.5mm，可依
据客户要求定制。
基片材料：Si硅
外观标准：60/40
光学特性：
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项目 |
入射角度 |
波长范围 |
光学指标 |
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BPF2.7～3.1 |
AOI:0° |
1.5～5.5um |
1.5～2.6um T＜1%,2.7-3.1um T＞90%,3.2～5.5um T＜1% |
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BPF3.6～4.9 |
AOI:0° |
1.5～7.5um |
1.5～3.4um T＜1%,3.6-4.9um T＞90%,5.1～7.5um T＜1% |
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BPF3.4 |
AOI:0° |
0.38～12um |
CWL3.4±0.04um , Tpeak＞85%；FWHM:＜0.15um；0.38～12um T＜1% |
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BPF4.25 |
AOI:0° |
0.38～12um |
CWL4.25±0.04um , Tpeak＞85%；FWHM:＜0.18um；0.38～12um T＜1% |
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项目 |
测试条件 |
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附着力 |
百格，3M610胶带拉膜，无脱膜 |
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湿热 |
50±2℃，90～95%RH，保存24H，膜层完好 |
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冷热冲击 |
-60±2℃，+70±2℃ 各保持2H，室温（16～32℃）静止后，膜层完好 |
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水溶性 |
室温（16～32℃）下，蒸馏水浸泡24H,膜层完好 |
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